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半導體集成電路外殼中靜電放電敏感度檢測

  • 樣品名稱：半導體集成電路外殼

  • 檢測項目：靜電放電敏感度

  • 認可資質：CNAS CMA

  • 檢測標準：半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1016

  • 所屬行業分類：電子電氣 > 環境試驗 >

  • 標簽： 靜電放電敏感度 半導體集成電路外殼

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