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半導(dǎo)體集成 電路 (CMOS)中輸入低電平電流IIL檢測(cè)

  • 樣品名稱:半導(dǎo)體集成 電路 (CMOS)

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:輸入低電平電流IIL

  • 認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理SJ/T10741-2000

  • 所屬行業(yè)分類:

  • 標(biāo)簽: 輸入低電平電流IIL 半導(dǎo)體集成 電路 (CMOS)

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