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半導體 集成電路中25℃下的 功能試驗檢測

  • 樣品名稱：半導體 集成電路

  • 檢測項目：25℃下的 功能試驗

  • 認可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標準：微電子器件試驗方法和程序 GJB548A-1996　 微電子器件試驗方法和程序 GJB548B-2005　 微電子器件試驗方法標準 MIL-STD-883G-2006

  • 所屬行業(yè)分類：

  • 標簽： 25℃下的 功能試驗 半導體 集成電路

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