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本文分享了MLCC失效分析經(jīng)驗。
2025/01/12 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了銅端子PIN針斷裂失效分析案例。
2025/04/12 更新 分類：檢測案例 分享
本文介紹了MOSFET失效原因及對策。
2025/04/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享
根據(jù)針尖與試樣表面相互作用力的變化，AFM主要有3種操作模式：接觸模式(contact mode),非接觸模式(non-contact mode)和敲擊模式(tapping mode)。
2018/06/19 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文研究了橫梁位移模式下名義速率與試樣上應變速率在試驗過程中的變化情況，并分析了二者之間的關聯(lián)與特征，建立了一種橫梁位移模式下的驗證測試方案，該方案可以大幅提升橫梁位移模式下的應變速率控制精度。
2021/06/24 更新 分類：檢測案例 分享
縱觀國內外檢測行業(yè)，營銷模式都經(jīng)歷了一個變化的過程，隨著競爭環(huán)境采取不同的策略。
2014/11/27 更新 分類：法規(guī)標準 分享
2013年2月4日，根據(jù)《能源政策與節(jié)約法案》，美國能源部提議修訂微波爐的測試程序并發(fā)布微波爐激活模式測試程序修訂提案，主要修訂內容如下： 1）增加了測量微波爐激活模式下能
2015/07/27 更新 分類：其他 分享
故障模式不僅是故障原因分析的依據(jù)，也是產(chǎn)品研制過程中進行可靠性設計的基礎。
2018/11/27 更新 分類：科研開發(fā) 分享
各個國家的法規(guī)對于代工模式的要求是不同的，因此在考慮采取何種代工模式的時候，廠商一定要結合具體國家的法規(guī)要求，規(guī)避法規(guī)風險。
2019/05/17 更新 分類：法規(guī)標準 分享
原子力顯微鏡有三種基本成像模式，它們分別是接觸式(Contact mode)、非接觸式(non-contact mode)、輕敲式(tapping mode)。
2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享
